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高電容密度硅基MIS芯片電容②
對 于襯底 采 用 高 摻 雜 的 11 型 低 阻 硅 片 的 M IS電 容器 ,其 電容公 式可 以表 達 為 :c、一學式 中 e。 是 真 空介 電常 數 是 介 質 層 材料 的介 電常數 ,S 是 電極 面 積 ,d 是 介 質 層 厚 度 。 可 以看 出 。 通過增 大 電極 面積或 者 降低 介質層 厚 度都 可 以達到 增大 電容 的 目的 ,但 介 質 層厚 度 減 小 的 同時 將 會 導 致耐壓 的 降低 。設計 的 3D 結 構 的硅基 M IS 芯 片 電容結 構 如 圖1 所 示 。通 過 在 低 阻 硅襯 底 上 進 行 深 孔 刻 蝕 擴 大 了有效 電極 面積 ,從 而達 到 提 升 電 容 密 度 的 目 的 。 深孔 內 介 質層 采 用 ()N () 型 ( S i() /s i N /s io 結 構 )的復合 介 質 膜 ,該 種 ()N 【) 復 合介 質 膜 已被 廣 泛 證實具 有 相對 高的 介 電 常數 、高 擊 穿 電場 和 低 漏 電流等優 點 ,在存儲 器 方 面已被 大量 應用 ] ,可 以有 效 提升 3D 芯 片 電容 的電 容值 和 耐壓 特 性 。 孑L內 填 充 層采用 的 是摻 雜多 晶 硅 ,一 方 面 可 以作 為 導 電層 與 孑L內介 質 充分接 觸 ,另 一 方面 可 以填平 深孔 ,有 助 于后續 電極 的淀 積 。 最 后 采用 多 層 金屬 結構 作 為 芯 片 電容 的 上 下接觸 電極 。
2 工 藝制 備本 文 采 用 n 型 <1 ()()> 晶 向 、 電 阻 率 0. 003, f l · cm的 硅 片 作 為 襯 底 ,采 用 深 孔 刻 蝕 的 3D 結 構來增 大器 件 的電容值 。 工 藝難 度 主要 在 于深孔 的刻蝕 、孔 內 介質 的淀 積 以及 多 晶硅 的填 充效 果 。電容密 度 的提 升 與深 孔結 構 密 切 相 關 ,對 于孔個數 、孔深 以及孔形 貌都 有嚴 格 的要求 。 以 Si()。 作為 刻 蝕 的 掩 蔽 層 .采 用 電感 耦 合 等 離 子 體 ( 1nduc—tiv ely coupl ed plasm a , IC P ) 對 硅 片 進 行 深 孔 的 刻蝕 。ICP 刻 蝕采 用 的是 側 壁 鈍 化 技 術 。 陔技 術 分 為刻 蝕 和鈍 化兩 個 過 程 ,并 循 環 交 替 進 行 。采 用 分 步刻蝕 法 ,通 過 調節 刻 蝕 氣 體 的 流量 比 和時 問 比優 化了 刻蝕 和 鈍化 兩個 過程 的 比例 ,得 到 了 良好 的 深 孑L形 貌 ,見 圖 2 和 3。 孔 之 間采 用 正 三角 形 排 列 , 有限 的 芯片 面積 上 可 以達 到 孔 數 的 最 大 化 .有 利 于 提高 電容 密 度 。單 孔 開 El 約 為 1.6 m .孔 深 約 為25.4 ptm ,深 寬 比高 達 1 6。 孔 底 直 徑 約 為 l m .且孔 底 呈現 圓弧 狀 。未 出 現突 起 ,I可有效 避 免介 質層 生長時 因突 起 而產生 重 要缺 陷 。從 而 導致 耐壓 低 、漏 電高等 問題 。 孔 側壁 光滑 且 保 持 了 一 定 的傾 斜 度 ( 約為 89.2。) ,有 利 于后續 介質 層 和 多 品硅 的填 充 。
推薦產品一、麗芯微電 680pF, ≥1G@50V, 雙面不留邊 單層芯片電容
型號:C11-25-50V-681
容值/容差:680pF / ±20%
溫度系數:±15%@-55~+125℃
絕緣電阻@電壓:≥1G@50V
損耗@頻率:≤2.5@1MHz
封裝尺寸:0.635*0.635*0.178 mm
性能特點:尺寸小、容值大,結構簡單,電極正面及反面均不留絕緣邊;采用MM結構,產品寄生參數小,使用頻率高至100GHz;表面純金電極,適合金絲、金帶等微組裝工藝;適合Au/Sn、Au/Si、Au/Ge 共晶焊,以及Sn /Pb、導電膠粘接;七專級/ 普軍級可選。
推薦產品二、麗芯微電 68pF, ≥100G@100V, 雙面不留邊 單層芯片電容
型號:C11-25-100V-680
容值/容差:68pF / ±20%
溫度系數:±15%@-55~+125℃
絕緣電阻@電壓:≥100G@100V
損耗@頻率:≤4.0@1KHz
封裝尺寸:0.635*0.635*0.178 mm
性能特點:尺寸小、容值大,結構簡單,電極正面及反面均不留絕緣邊;采用MM結構,產品寄生參數小,使用頻率高至100GHz;表面純金電極,適合金絲、金帶等微組裝工藝;適合Au/Sn、Au/Si、Au/Ge 共晶焊,以及Sn /Pb、導電膠粘接;七專級/ 普軍級可選。
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